简论测试嵌入式IO制约器软件测试关键技术查抄袭率怎么

摘要3-5

ABSTRACT5-10

1 绪论10-14

1.1 探讨背景及不足的提出10

1.2 课题的国内外探讨近况10-12

1.3 嵌入式 IO 制约器软件测试所面对的不足12-13

1.4 课题的主要探讨内容13-14

2 嵌入式发控系统 IO 制约器软件测试的基本论述14-21

2.1 软件测试的基本论述14-16

2.1.1 软件测试的定义14

2.1.2 软件测试的目的14-15

2.1.3 软件测试的分类15-16

2.2 软件测试技术16-18

2.2.1 静态测试技术16

2.2.2 动态测试技术16-17

2.2.3 覆盖率测试技术17-18

2.3 嵌入式 IO 制约器软件测试18-20

2.3.1 嵌入式软件测试环境18-19

2.3.2 嵌入式软件测试特点19-20

2.3.3 嵌入式软件测试策略20

2.4 本章小结20-21

3 自动化测试历程模型和独立仿真平台的建立21-41

3.1 嵌入式 IO 制约器软件的特点21-22

3.2 自动化测试历程模型22-30

3.2.1 典型软件测试历程模型22-28

3.2.2 嵌入式 IO 制约器软件测试历程模型28-30

3.2.3 嵌入式 IO 制约器软件测试历程模型的优点30

3.3 嵌入式 IO 制约器软件独立仿真平台的建立30-39

3.3.1 独立仿真平台主要功能和技术指标30-31

3.3.2 独立仿真平台结构及组成31-36

3.3.3 独立仿真平台软件校验及测试36-39

3.4 本章小结39-41

4 嵌入式发控系统 IO 制约器软件静态测试41-52

4.1 嵌入式 IO 制约器软件静态测试的相关概念41-42

4.2 嵌入式 IO 制约器软件静态测试需求与难点42-43

4.3 嵌入式 IO 制约器软件静态测试技术43-51

4.3.1 嵌入式 IO 制约器软件静态浅析历程43-45

4.3.2 嵌入式 IO 制约器软件静态测试技术45-51

4.4 本章小结51-52

5 嵌入式发控系统 IO 制约器软件内存泄露测试52-65

5.1 内存泄露测试相关概念52-53

5.2 嵌入式 IO 制约器软件测试需求与难点53-55

5.3 内存泄露历程55-58

5.4 嵌入式 IO 制约器软件内存泄露测试技术58-64

5.4.1 嵌入式 IO 制约器软件内存泄露的动态测试工具58-59

5.4.2 嵌入式 IO 制约器软件内存泄露历程59-60

5.4.3 内存利用缺陷测试的关注点举例说明60-63

5.4.4 嵌入式 IO 制约器软件内存利用缺陷结果浅析63-64

5.5 本章小结64-65

6 嵌入式发控系统 IO 制约器软件逻辑覆盖率测试65-80

6.1 嵌入式 IO 制约器软件逻辑覆盖率测试的相关概念65-66

6.2 嵌入式 IO 制约器软件测试需求与难点66-67

6.3 嵌入式 IO 制约器软件自动化测试工具67-71

6.3.1 逻辑覆盖率测试工具的选择67-68

6.3.2 MACABE 工具技术原理68-70

6.3.3 TESTBED 工具技术原理70-71

6.4 嵌入式 IO 制约器软件黑盒覆盖率测试技术71-79

6.4.1 测试环境配置71-72

6.4.2 测试准备工作72

6.4.3 嵌入式 IO 制约器软件覆盖率测试历程72-77

6.4.4 嵌入式 IO 制约器软件覆盖率测试结果浅析77-79

6.5 本章小结79-80

7 结论80-82