SOC测试时间优化技术

摘要3-5

Abstract5-12

第1章 绪论12-31

1.1 课题背景、目的和12-15

1.2 SOC 测试结构及测试时间分析15-21

1.2.1 SOC 测试结构15-19

1.2.2 SOC 测试时间分析19-21

1.3 测试时间最小化的测试优化技术研究现状21-28

1.3.1 测试压缩技术21-23

1.3.2 扫描链平衡设计23-24

1.3.3 测试调度方法24-26

1.3.4 层次化SOCs 测试优化技术26-28

1.4 测试时间优化领域存在的问题28-29

1.5 课题来源及主要研究内容29-31

第2章 基于扫描链平衡设计的IP 核测试时间最小化方法31-61

2.1 引言31

2.2 可测性技术31-37

2.2.1 可测性设计及主要方法31-34

2.2.2 基于扫描设计的SOC 可测性技术34-35

2.2.3 ITC’02 标准测试集35-37

2.3 基于IEEE 1500 标准的测试封装设计及扫描链划分方法37-42

2.3.1 IEEE 1500 标准的测试封装37-40

2.3.2 扫描链划分对测试时间的影响40-42

2.4 基于单IP 核测试时间最小化的扫描链平衡设计42-60

2.4.1 现有的扫描链平衡方法概述42-47

2.4.2 基于差值二次分配的扫描链平衡方法47-56

2.4.3 仿真实验56-60

2.5 小结60-61

第3章 基于交叉熵方法的SOC 测试调度算法61-86

3.1 引言61

3.2 交叉熵方法及其应用61-68

3.2.1 交叉熵方法的原理61-63

3.2.2 交叉熵方法解决组合优化问题的收敛性63-64

3.2.3 交叉熵方法改进及性能测试64-68

3.3 基于交叉熵方法的固定TAM 宽度的测试调度算法68-76

3.3.1 问题建模及分类69-70

3.3.2 测试总线指定70-73

3.3.3 测试总线划分73-76

3.4 基于交叉熵方法的可变TAM 宽度的测试调度算法76-84

3.4.1 问题建模76-77

3.4.2 基于B*_tree 的结构描述模型77-80

3.4.3 灵活TAM 分配的测试调度算法80-83

3.4.4 实验验证与分析83-84

3.5 小结84-86

第4章 层次化SOCs 测试优化方法86-109

4.1 引言86

4.2 层次化SOCs 测试结构优化86-100

4.2.1 基于带宽匹配的层次化SOCs 测试结构设计86-90

4.2.2 一种基于传输门的并行测试封装扫描单元设计90-100

4.3 层次化SOCs 测试调度100-108

4.3.1 层次化SOCs 测试调度算法100-104

4.3.2 基于IP 核分时测试的层次化SOCs 测试调度方法104-108

4.4 小结108-109

109-111