简论辐照SiPINX射线探测器性能封面

摘要3-4

Abstract4-5

目录5-7

1 绪论7-14

1.1 探讨背景7-9

1.2 硬 X 射线调制望远镜 HXMT9-12

1.2.1 调制望远镜9-10

1.2.2 中能望远镜10-12

1.2.3 硬 X 射线调制望远镜的科学作用和主要任务12

1.3 论文完成的工作12-14

2 空间X射线天文14-21

2.1 探测技术进展14

2.2 X 射线与物质的相互作用14-21

2.2.1 X 射线的吸收15-16

2.2.2 X 射线的散射16-21

3 Si-PIN 探测器偏压选取与温度特性探讨21-52

3.1 X 射线探测器21-30

3.1.1 探测原理21

3.1.2 探测器的基本参数21-23

3.1.3 几种常用的探测器23-30

3.2 Si-PIN 探测器测试系统设计30-40

3.2.1 半导体致冷原理34-35

3.2.2 半导体致冷器件35-36

3.2.3 Si-PIN 探测器测试系统标定36-40

3.3 Si-PIN 探测器的主要技术指标40-43

3.3.1 暗电流40-42

3.3.2 耗尽层厚度42

3.3.3 结电容42-43

3.3.4 探测器噪声43

3.4 Si-PIN 探测器偏置电压选取43-47

3.4.1 偏压特性43-44

3.4.2 Si-PIN 探测器偏压特性实验44-47

3.5 Si-PIN 探测器温度特性探讨47-51

3.5.1 温度特性47

3.5.2 Si-PIN 探测器温度特性实验47-49

3.5.3 温度特性实验能谱浅析49-51

3.6 小结51-52

4 Si-PIN 探测器质子辐照性能探讨52-57

4.1 核辐射效应52

4.2 Si-PIN 探测器质子辐照性能探讨52-56

4.2.1 质子辐照位移损伤52-53

4.2.2 辐照试验及数据浅析53-56

4.3 小结56-57

5 总结57-59